Diversi tipi di microscopi elettronici a

Microscopia elettronica utilizza un fascio focalizzato di elettroni per creare immagini ad alta risoluzione di un esemplare di destinazione. Considerando microscopi luce siano limitati nel loro ingrandimento dalla lunghezza d'onda dei fotoni, microscopi elettronici sono limitati dalla lunghezza d'onda molto più piccola di elettroni, ottenendo così ingrandimento fino a quasi 0,05 nanometri. Ci sono quattro tipi principali di microscopi elettronici, i quali possono essere grosso modo delimitata dal tipo di energia riflessa registrano dal campione. Storia

Il primo microscopio elettronico, un microscopio elettronico a trasmissione, è stato costruito dagli ingegneri tedeschi Max Knoll e Ernst Ruska nel 1931. Sebbene il prototipo originale realizzato un ingrandimento inferiore a quello delle attuali microscopi luce, Knoll e Ruska dimostrato successo la progettazione era possibile e due anni dopo superato il microscopio luce nel potere di ingrandimento. Tutte le successive iterazioni del microscopio elettronico si basano su questo prototipo originale.
Transmission Electron Microscope (TEM)
Cambio Per microscopi elettronici a produrre immagini dalla registrazione del fascio di elettroni dopo che è passato attraverso una fetta sottile di materiale. Il provino viene posto su una griglia di filo di rame e sottoposto ad un fascio di elettroni, normalmente generato eseguendo alta tensione attraverso un filamento di tungsteno. Il fascio di elettroni passa attraverso una lente condensatore, colpisce il campione e continua attraverso lenti dell'obiettivo e proiettiva, prima di essere raccolte su uno schermo al fosforo. Come per tutte le forme di microscopia elettronica, il campione bersaglio deve essere disidratata e isolato nel vuoto per evitare la contaminazione dell'acqua acqueo, che può causare indesiderate scattering di elettroni. TEM producono il massimo ingrandimento di tutti i microscopi elettronici.
Microscopio elettronico a scansione (SEM) economici

​​Microscopi elettronici a scansione, insieme con microscopi elettronici di trasmissione, sono le più ampiamente usato. A differenza dei TEM, microscopi elettronici a scansione producono immagini raccogliendo gli elettroni secondari o anelasticamente sparsi che rimbalzano la superficie di un campione. Il fascio di elettroni primario attraversa molte lenti condensatrici, bobine di scansione e una lente obiettivo prima di colpire la superficie del campione. Il fascio di elettroni viene disperso su colpire la provetta e un rivelatore di elettroni secondari raccoglie gli elettroni diffusi. I dati elettrone è quindi raster-scansione per produrre immagini della superficie con notevole profondità di campo.
Riflessione Electron Microscope (REM)

Riflessione microscopi elettronici di operare molto simile al SEM in termini di struttura. REM, tuttavia, raccolgono gli elettroni retrodiffusi o elasticamente dispersi dopo il fascio primario di elettroni colpisce la superficie del campione. Microscopi elettronici di riflessione sono più comunemente accoppiati con spin polarizzato microscopia elettronica a basso consumo energetico per l'immagine della firma di dominio magnetico delle superfici di prova nella costruzione di circuiti del computer.
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) per

Microscopi elettronici a scansione di trasmissione, come TEM tradizionali, passare un fascio di elettroni attraverso una fetta sottile di materiale. Invece di focalizzazione del fascio di elettroni dopo il passaggio attraverso il campione, un gambo focalizza il fascio anticipo e costruisce l'immagine attraverso la scansione raster. Scansione di trasmissione microscopi elettronici sono adatti per le tecniche di mappatura di analisi come la spettroscopia di perdita di energia di elettroni e anulare microscopia a campo scuro.